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增强分辨率成像AFM探针

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SSS-NCHR
SSS-NCHR
  • 非接触高频
  • 背面反射涂层
  • Non-Contact High frequency
  • Backside Reflex coating
  • C = 42 N/m; fo = 330 kHz

SuperSharpSilicon™

SuperSharpSilicon™
SSS-NCH
  • 非接触高频
  • Non-Contact High frequency
  • C = 42 N/m; fo = 330 kHz
SSS-NCL
  • 非接触长悬臂梁
  • Non-Contact Long cantilever
  • C = 48 N/m; fo = 190 kHz
SSS-SEIH
  • 用于Seiko Instruments公司的显微镜
  • for Seiko Instruments microscope
  • C = 15 N/m; fo = 130 kHz
SSS-NCHR
  • 非接触高频
  • 背面反射涂层
  • Non-Contact High frequency
  • Backside Reflex coating
  • C = 42 N/m; fo = 330 kHz
SSS-NCLR
  • 非接触长悬臂梁
  • 背面反射涂层
  • Non-Contact Long cantilever
  • Backside Reflex coating
  • C = 48 N/m; fo = 190 kHz
SSS-SEIHR
  • 用于Seiko Instruments公司的显微镜
    背面反射涂层
  • for Seiko Instruments microscope
  • Backside Reflex coating
  • C = 15 N/m; fo = 130 kHz
SSS-FM
  • 力调制模式
  • Force Modulation Mode
  • C = 2.8 N/m; fo = 75 kHz
SSS-FMR
  • 力调制模式
  • 背面反射涂层
  • Force Modulation Mode
  • Backside Reflex coating
  • C = 2.8 N/m; fo = 75 kHz