SuperSharpSilicon™ - Non-Contact / Tapping Mode - Long Cantilever - Reflex Coating
NANOSENSORS™ SSS-NCLR 探针是专为用于非接触模式或轻敲模式AFM而设计的。这是NANOSENSORS™高频非接触式（NCH）的替代产品。如果显微镜的反馈回路不接受高频（400kHz）或检测系统需要的最小悬臂梁长度>125µm，则建议使用SSS-NCLR。与高频非接触式NCH相比，最大扫描速度略有降低。此AFM探针兼具高操作稳定性，出色的灵敏度和快速的扫描能力。
为了提高纳米结构的分辨率和微粗糙度，我们提供了具有无与伦比的清晰度的Super SharpSilicon™探针。
此探针具有独特的功能：
- 保证探针的曲率半径探针曲率半径通常为2nm
- 距针尖200nm处的深宽比通常为4:1
- 距针尖200nm处的半锥角<10°
- 高掺杂硅以消除静电荷
- 高机械Q-因数可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时，悬臂梁两边位置的精确对准（+/-2µm以内）
- 与PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
反射涂层是在悬臂梁的检测器侧的大约30 nm厚的铝涂层，可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外，它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2％。
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