PointProbe® Plus Non-Contact / Soft Tapping Mode - Au Coating
Point
Probe®
Plus(PPP)结合了久经考验的
PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商用SPM的兼容性,并具有更小和更有再重复的探针半径以及更明确的探针形状。
NANOSENSORS™ PPP-NCSTAu AFM探针是专为用于非接触或柔性轻敲模式成像而设计的。软悬臂梁和相当高的共振频率相结合,可实现稳定,快速的测量,同时减少了探针与样品的相互作用。此功能可同时显着减少探针磨损和样品磨损。
此探针具有独特的功能:
- 探针的金属导电性
- 探针高度为10-15µm
- 悬臂梁两侧的金涂层
- 化学惰性
- 高机械Q-因数可实现高灵敏度
- 金属层(金)涂覆在悬臂梁的两侧
金属层(金)涂覆在悬臂梁的两侧。探针侧面涂层增强了探针的导电性并允许电接触-探针曲率半径通常小于50nm。检测器侧面涂层将激光束的反射率提高了2.5倍,并防止了光在悬臂梁内的干涉。涂层工艺已针对应力补偿进行了优化。由于应力导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。
请注意:如果在接触,摩擦或力调制模式下运行,则可能会出现探针磨损。