Point Probe® Plus Magnetic Force Microscopy - Reflex Coating
NANOSENSORS™ PPP-MFMR AFM探针是我们用于磁性力调制显微镜的标准探针,具有合理的灵敏度,分辨率和矫顽力。它已被证明可以稳定记录各种记录介质和其他样本。这种探针类型的力常数是专门为磁性力调制显微镜量身定制的,可产生高力灵敏度,同时可实现轻敲模式和提升模式操作。
探针上的硬磁涂层经过优化,可实现高磁对比度和远高于50nm的高横向分辨率。该涂层的特征在于应用的矫顽力。 300Oe和app的剩磁。 300 emu / cm3(这些值是在平坦的表面上确定的)。
SPM探针具有独特的功能:
- 探针侧的硬磁性涂层(矫顽力约为300Oe,剩磁强度约为300 emu / cm3)
- 有效磁矩约为10-13emu
- 金属电导率
- 保证探针曲率半径
- 磁分辨率优于50nm
- 探针高度为10-15µm
- 悬臂的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时,悬臂位置的精确对准(+/-2µm以内)
- 与PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
由于两个涂层几乎都没有应力,因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度,建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。