Point Probe® Plus Magnetic Force Microscopy - Low Coercivity - Reflex Coating
NANOSENSORS™ PPP-LC-MFMR AFM探针涂有软磁薄膜,可测量软磁样品中的磁畴。由于探针涂层的矫顽力低,探针的磁化强度很容易被硬磁性样品重新定向。
探针上的软磁性涂层的矫顽力约为7.5Oe和剩磁化约为225 emu / cm3(这些值是在平坦的表面上确定的)。
SPM探针具有独特的功能:
- 探针侧面的软磁涂层(矫顽力约为7.5Oe,剩磁化约为225 emu / cm3)
- 标准探针的有效磁矩为0.75倍
- 磁分辨率优于35nm
- 保证探针的曲率半径<30nm
- 探针高度为10-15µm
- 悬臂的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时,悬臂梁位置的精确对准(+/-2µm以内)
- 与 PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
由于两个涂层几乎都没有应力,因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度,建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。