PointProbe® Plus - High Quality-Factor - Force Modulation Mode - Reflex Coating
新型PointProbe® Plus Q30K-Plus结合了久经考验的PointProbe® Plus系列的众所周知的功能,例如进一步减小的并且重复性更高的探针半径(探针半径通常小于7nm)以及更清晰的探针形状以及在超高真空(UHV)条件下具有很高的机械品质因数(Q-factor)。在特高压条件下,Q-因数通常超过35000,探测器侧的铝涂层提供了出色的分辨率和增强的信噪比。
FM型用于力调制显微镜。该AFM探针的力常数跨越了接触模式和非接触模式之间的间隙,并且专门针对UHV条件下的力调制模式而设计。由于其高Q-因数和PPP系列的典型功能,此AFM探针兼具高操作稳定性,出色的灵敏度和快速的扫描能力。.
此探针具有独特的功能:
- 保证探针的曲率半径<10nm
- 探针高度为10-15µm
- 高掺杂硅以消除静电荷
- 悬臂梁检测器侧面的铝涂层
- 在超高压条件下具有出色的机械Q-因数,可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时,悬臂梁两边位置的精确对准(+/-2µm以内)
- 与 PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
反射涂层是在悬臂梁的检测器侧大约30nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎无应力的涂层使悬臂梁弯曲得小于悬臂梁长度的2%。