| 属性 | 标称值 | 特定的范围 |
|---|---|---|
| 共振频率 [kHz] | 20 | 11 - 29 |
| 力常数 [N / m] | 0.5 | 0.1 - 1.7 |
| 长度 [µm] | 450 | 440 - 460 |
| 平均宽度 [µm] | 50 | 42.5 - 57.5 |
| 厚度 [µm] | 2 | 1 - 3 |
| 订购代码 | 每包AFM探针的数量 | 数据表 |
|---|---|---|
| DT-CONTR-10 | 10 | of all probes |
| DT-CONTR-20 | 20 | of all probes |
| DT-CONTR-50 | 50 |
NANOSENSORS™ DT-CONTR探针是专为用于接触模式（排斥模式）AFM成像而设计的。由于力常数低，CONT型针对高灵敏度进行了优化。 对于需要探针与样品之间硬接触的应用，此SPM探针提供了真正的金刚石探针侧面涂层。由于金刚石具有无与伦比的硬度，该涂层具有极高的耐磨性。宏观探针曲率半径通常在100至200nm之间。 10nm制程中的纳米粗糙度可改善在平坦表面上的分辨率。
DT金刚石涂层是在悬臂梁的探针侧面上约100nm厚的多晶金刚石涂层，可导致探针的硬度无与伦比。涂层的拉曼光谱验证了真实的金刚石涂层。
反射涂层是在悬臂梁的检测器侧大约30nm厚的铝涂层，可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外，它防止了光在悬臂梁内干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的3.5％。
